aaaaCzęsto usiłujemy ukryć nasze uczucia przed tymi, którzy powinni je poznać.aaaa [ Pobierz całość w formacie PDF ]
//-->.pos {position:absolute; z-index: 0; left: 0px; top: 0px;}SprawozdanieBadania elementów i zespołów maszynZastosowanie interferometrii holograficznej do pomiaruprzemieszczeń elementów maszynMarek Szweda194515Grupa pt 13:15-15:00 H1 WstępMetoda interferometrii holograficznej pozwala na pomiar przemieszczeń oraz rozkładodkształceń rzeczywistego modelu za pośrednictwem holografii. Zaletami tej metody jestpomiar odkształceń z dokładnością połowy wartości długości fali wykorzystywanej do zapisuhologramu. Dodatkowo możemy obserwować różnice przemieszczeń na rzeczywistychmodelach o skomplikowanych kształtach powierzchni. W celu wyznaczenia przemieszczeniawymagane są dwa hologramy zarejestrowane przy różnych obciążeniach mechanicznych,termicznych itp. W wyniku nałożenia dwóch hologramów dochodzi do interferencjizarejestrowanych hologramów, które to widoczne są w postaci prążków.W przeprowadzonym badaniu użyto metody podwójnej ekspozycji do rejestracji obrazuholograficznego. Polega ona na dwukrotnym zarejestrowaniu obrazu przy wstępnymzałożonym ciśnieniu a następnie zwiększenia ciśnienia o ustaloną wartość Δp. Po nałożeniuna siebie dwóch obrazów w odtwarzaczu interferogramów holograficznych na tle badanegoobiektu można zaobserwować prążki (rys. 2 i 3). Na podstawie prążków można obliczyćprzemieszczenie ze wzoru:������������ = ����2gdzie:λ- długość fali światła ( w badaniu λ=632,8nm)N- numer prążka2 Schemat układu badawczegoRysunek 1 Schemat układu badawczego3 WynikiNa podstawie interferogramów można wyznaczyć przemieszczenie badanychprzedmiotów. Pierwszym z nich była pokrywa płaska (rys. 2) natomiast drugim pokrywa zprzetłoczeniem (rys. 3) Na zaznaczonej płaszczyźnie (czerwona linia) został wykonanywykres przyrostu odkształcenia.Rysunek 2 Pokrywa płaskaRysunek 3 Pokrywa z przetłoczeniemPrzyrost przemieszczenia8765Δz [µm]4Pokrywa wypukła321Pokrywa płaska102030l [mm]40504 WnioskiZ wykresu możemy odczytać maksymalne wartości przyrostu przemieszczenia i takdla pokrywy płaskiej maksymalna wartość to 7,75μm natomiast dla pokrywy zprzetłoczeniem wynosi 5,22 μm. Podatność na przemieszczenia w przypadku pokrywypłaskiej jest o około 50% większa niż pokrywy z przetłoczeniem. Wzrost odkształceńpowoduje zwiększenie naprężeń zgodnie z prawem Hook'a wiec element taki może byćwykonany z mniejszej objętości materiału, oszczędzając przy tym koszt i zmniejszającmasę. Dodatkowo wzrost przemieszczeń może być przyczyną gorszej pracy pokrywy zelementem uszczelniającym, który powninen być równomiernie obciążony. Przy wyższychwartościach ciśnienia może dojść do znacznego odkształcenia pokrywy i utraty szczelności.Z przeprowadzonych badań wynika, że lepszy rozkład przemieszczeń daje pokrywa zprzetłoczeniem.[ Pobierz całość w formacie PDF ]